Scanning electron microscope
Microscope JEOL JSM-6010 PLUS / PLA
Featuress :
- Topographic studies (secondary electrons)
- X-ray microanalysis and mapping (X-rays)
- Topographic studies and chemical contrast of non conductors (variable pressure)
Applications : Microstructure and phase analysis, fractography, chemical composition.
Surface d’un composite avec les différentes phases qui le constitue (contraste chimique - électrons retrodiffusés)
Surface de cassure d’un composite (électrons secondaires)
Surface de cassure d’un matériau métallique (électrons secondaires )
