Microscope Electronique à Balayage
Microscope JEOL JSM-6010 PLUS / PLA
Fonctionnalités :
- Etudes topographiques (électrons secondaires)
- Microanalyse X et cartographie (rayons X)
- Etudes topographiques et contraste chimique des non conducteurs (pression variable)
Applications : Analyse de la microstructure et des phases, fractographie, composition chimique.
Surface d’un composite avec les différentes phases qui le constitue (contraste chimique - électrons retrodiffusés)
Surface de cassure d’un composite (électrons secondaires)
Surface de cassure d’un matériau métallique (électrons secondaires )
